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一院航天测控公司PXI智能平板仪器获第113届巴黎国际发明展银奖

发布时间:2014-06-06    信息来源: 中国航天科工一院


       近日,中国航天科工一院航天测控公司自主研制的PXI智能平板仪器产品荣获第113届巴黎国际发明展银奖,这是航天测控继2011年“多总线VISA库系统”荣获第110届巴黎国际发明展银奖后第二次获此殊荣。

  PXI智能平板仪器产品将测试、分析所需的各种仪器设备通过不同的功能板卡集成在一起,为用户提供便携式测试、测量、信号处理等解决方案,不仅可用于航天、航空、船舶、兵器等军工装备的研发、制造和保障,同时在铁路、通信、石油、化工、煤炭等民用装备领域也具有广阔的应用前景。

  巴黎国际发明展由法国发明与制造者协会主办,在欧洲乃至世界享有盛名,迄今为止已举办113届。本次大赛有来自法国、中国、俄罗斯等国家和地区的近600项发明参展。(文/陈一朝、安佰岳)